Software

Vermessung von Strahlprofilen

Entscheidend für die exakte Vermessung und Analyse von Laserstrahlen ist das perfekte Zusammenspiel von Hardware und Software. Metrolux hat vier Software-Pakete entwickelt, welche die Laser- und Wellenfrontparameter gemäß internationaler ISO-Norm auswerten: Beamlux, Beamscan, Linescan und Raylux.

Oftmals werden Messsysteme in andere Umgebungen oder Prozesse integriert. Damit bekommt auch die Kompatibilität der gemessenen Daten zu anderen Rechnersystemen einen hohen Stellenwert. Die Fernsteuerbarkeit der Metrolux-Software erlaubt eine einfache Integration in Produktionsprozesse sowie maßgeschneiderte Anwender-GUIs. Für eine schnelle Weiterverarbeitung und Reporterzeugung stehen vielseitige Funktionen zur Verfügung.

Die Strahlprofilanalyse- und Bildverarbeitungs-Software Beamlux eignet sich zur Analyse von cw- und gepulsten Laserstrahlen. Sie ermittelt für jedes aufgenommene Bild alle Strahlparameter, die sich aus den Intensitätsverteilungen des Laserstrahls ergeben. Die Auswertung entsprechend internationalem ISO-Standard bedient alle grundlegenden Funktionalitäten der Strahlprofilanalyse und ist durch Funktionen wie das Spottracking und verschiedene Zoom- und Darstellungsoptionen auch ideal für die Fokusmessung. Eine Erweiterung durch optionale Module wie das M²-Tool oder das Power-Tool  bietet eine  Optimierung für spezielle Messaufgaben wie die Kaustikmessung oder eine relative Leistungsmessung.

Die Software-Pakete Linescan und Beamscan ermöglichen die Vermessung großflächiger Strahlprofile, speziell von Linienfoki, welche bei Breiten im µm-Bereich durchaus mehrere Meter Länge aufweisen können. Die optimierten Algorithmen erlauben eine hochpräzise Bestimmung der Intensitätshomogenität. Diese Scan-Software mit integrierter Motorsteuerung eignet sich für die Auswertung langer Laserlinien.

Für die Wellenfrontanalyse eignet sich die Software Raylux. Sie ist für die Auswertung von Shack-Hartmann-Messdaten inklusive einer Anpassung aller Zernike-Koeffizienten derselben ausgelegt und erlaubt so die Charakterisierung von Optiken und eine Überwachung der Strahlqualität.

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